技术特征：
1.一种检测大口径非球面镜的固定及调节装置，其特征在于，包括：被测镜面装夹部分、被测镜面姿态调节部分和旋转支撑杆(5)；被测镜面姿态调节部分和被测镜面装夹部分之间垂直布置并通过旋转支撑杆(5)连接，被测镜面装夹部分对被测非球面镜进行装夹固定，被测镜面姿态调节部分对被测非球面镜的检测姿态进行调整。2.如权利要求1所述的检测大口径非球面镜的固定及调节装置，其特征在于，所述被测镜面装夹部分包括背板(3)、三爪支撑杆(2)、固定挡块(1)，背板(3)竖直布置，多组三爪支撑杆(2)间隔设置，垂直布置在背板(3)上且位置可调，用于固定被测非球面镜的侧面轮廓；每个三爪支撑杆(2)的端部设置固定挡块(1)，背板(3)和固定挡块(1)用于装夹固定被测镜面的两表面。3.如权利要求2所述的检测大口径非球面镜的固定及调节装置，其特征在于，所述背板(3)上中心开通孔，通孔周围沿径向开设有多组滑动轨道(4)，每组滑动轨道(4)内布置一组三爪支撑杆(2)，三爪支撑杆(2)背部设固定螺母，用于对三爪支撑杆(2)进行固定定位。4.如权利要求3所述的检测大口径非球面镜的固定及调节装置，其特征在于，所述滑动轨道(4)设置有五组，五组滑动轨道(4)的布局为：一组滑动轨道(4)由背板(3)中心通孔竖直向上延伸，两组滑动轨道(4)间隔由中心通孔向左下延伸，两组滑动轨道(4)间隔由中心通孔向右下延伸，能够实现对被测非球面镜的有效支撑和固定定位。5.如权利要求4所述的检测大口径非球面镜的固定及调节装置，其特征在于，所述固定挡块(1)为配合三抓支撑杆(2)尺寸的带圆孔和带螺纹孔的方形小块，固定挡块(1)中间圆孔尺寸与三爪支撑杆(2)口径一致，螺纹孔为贯穿式固定螺纹孔，开设在固定挡块(1)顶部，沿三爪支撑杆(2)径向开设，螺纹孔内装入紧定螺母，对固定挡块(1)进行固定定位。6.如权利要求5所述的检测大口径非球面镜的固定及调节装置，其特征在于，所述被测镜面姿态调节部分包括底部平台(7)、方位调节凸台(6)、俯仰调节承座(8)，所述底部平台(7)水平布置，其上垂直布置背板(3)，底部平台(7)和背板(3)通过旋转支撑杆(5)连接；底部平台(7)上设置有两个方位调节凸台(6)，方位调节凸台(6)位于背板(3)背侧，背板(3)背侧设置有后支撑块，后支撑块嵌入两个方位调节凸台(6)之间，两个方位调节凸台(6)之间的空隙宽度大于后支撑块的厚度，两个方位调节凸台(6)上开设贯穿式螺纹孔，贯穿式螺纹孔内布置装夹弹簧的螺母，调节弹簧螺母，推动后支撑块连同背板(3)进行方位调节。7.如权利要求6所述的检测大口径非球面镜的固定及调节装置，其特征在于，所述背板(3)通过底部平台(7)的圆孔进行相对固定，底部平台(7)的圆孔为贯穿式螺纹孔，背板(3)底部为与底部平台(7)圆孔孔口径相同的螺纹孔，采用符合孔径的旋转支撑杆(5)将背板(3)与底部平台(7)定位安装，采用螺纹配合满足背板(3)在底部平台(7)上进行一定角度的转动。8.如权利要求7所述的检测大口径非球面镜的固定及调节装置，其特征在于，所述底部平台(7)为整体平板结构，在平面图示上，一半呈现三角形，另一半为长方形，三角形的底边与长方形的上边重合，底部平台(7)底部前后三个角，即三角形的顶角位置和长方形下边的两个底角位置，各设置一个俯仰调节承座(8)支撑，俯仰调节承座(8)的高度可调。9.如权利要求8所述的检测大口径非球面镜的固定及调节装置，其特征在于，所述俯仰调节承座(8)包括俯仰调节承座调节螺杆(9)、旋转升降旋钮(10)、俯仰调节承座卡盘(11)、俯仰调节底座(12)；俯仰调节承座调节螺杆(9)与旋转升降旋钮(10)为一体，俯仰调节承座
调节螺杆(9)为球头螺杆并嵌入俯仰调节底座(12)，俯仰调节承座卡盘(11)通过三个螺母与俯仰调节底座(12)固定，俯仰调节承座卡盘(11)与俯仰调节承座调节螺杆(9)螺纹部分配合，通过转动旋转升降旋钮(10)，调节螺杆高低，完成对底部平台(7)俯仰的调节，通过调节使非球面镜满足测试时俯仰的改变。10.如权利要求9所述的检测大口径非球面镜的固定及调节装置，其特征在于，所述三爪支撑杆(2)为圆柱状，外部用弹性皮革或缓冲海绵进行包裹；所述背板(3)与被测镜面接触部分用弹性皮革或缓冲海绵粘贴；所述固定挡块(1)为弹性体材料。
技术总结
本发明公开了一种检测大口径非球面镜的固定及调节装置，其包括：被测镜面装夹部分、被测镜面姿态调节部分和旋转支撑杆；被测镜面姿态调节部分和被测镜面装夹部分之间垂直布置并通过旋转支撑杆连接，被测镜面装夹部分对被测非球面镜进行装夹固定，被测镜面姿态调节部分对被测非球面镜的检测姿态进行调整。本发明通过设计满足对不同口径非球面镜的装夹，其次可以同时对被测件进行俯仰和方位的调节，满足使用要求。使用要求。使用要求。
技术研发人员：王阜超 苏瑛 许增奇 王章利 郭芮 张峰 张瑜 杨硕 张云龙 曾行昌 俞洋
受保护的技术使用者：西安应用光学研究所
技术研发日：2023.06.30
技术公布日：2023/10/10