技术特征：
1.一种基于伪随机序列的解调性能自适应测试方法，其特征在于，包括步骤：信号模拟源根据当前信道条件选取pn码，生成pn码序列作为接收机解调性能的测试信号，根据待测接收机的参数进行组帧、编码及调制输出；待测接收机对pn码序列进行解调、帧同步和译码，并截取译码后数据流中pn码数据，缓存在寄存器中作为初相，通过本地pn码生成器生成本地pn码序列；比对生成的本地pn码序列与接收到的pn码序列测试信号，统计误码率，测试接收机的解调性能，并在测试过程中，结合实时误码率和当前测试信号的实时信噪比，调整pn码型，选择不同的周期长度的pn码，保证解调性能测试结果的实时性和准确性。2.根据权利要求1所述的一种基于伪随机序列的解调性能自适应测试方法，其特征在于：所述信号模拟源根据当前信道的预估信噪比选择pn码，生成pn码序列测试信号，其中，pnn码的循环周期为2
n-1，n取值越大，pn码越接近随机数，测试出的解调性能越准确。3.根据权利要求2所述的一种基于伪随机序列的解调性能自适应测试方法，其特征在于：所述译码后的数据流中包括pn码数据、数据帧的帧同步字、空闲帧，以及信道编码的校验位。4.根据权利要求3所述的一种基于伪随机序列的解调性能自适应测试方法，其特征在于：所述信噪比，利用矩估计方法对当前测试信号，进行信噪比估算，具体的：设接收机位同步环路输出信号为y
n
，m2和m4分别表示测试信号的二阶矩和四阶矩，采用时间平均替代测试信号的统计平均，表示如下：时间平均替代测试信号的统计平均，表示如下：m2m4估计器得到的当前信道条件的实时噪声条件下信噪比为：5.根据权利要求1所述的一种基于伪随机序列的解调性能自适应测试方法，其特征在于：所述比对生成的本地pn码序列与接收到的pn码序列测试信号之前，接收到的pn码序列需经过延时寄存器调整时序后，再与本地pn码序列做比对，得出误码率。6.根据权利要求4所述的一种基于伪随机序列的解调性能自适应测试方法，其特征在于，所述结合实时误码率和当前测试信号的信噪比，调整pn码型，选择不同的周期长度的pn码，具体为：设置误码率门限值threshold1，判断误码率是否超出门限值threshold1，若误码率未超出门限值threshold1，则输出误码率；若误码率超出门限值threshold1，则进行复位本地pn码生成器，重新生成本地pn码序列；其次，设置pn码复位次数门限值threshold2，若pn码复位次数未超出门限值threshold2，则进行上述复位本地pn码生成器；若pn码复位次数超过门限值threshold2，则
根据实时信噪比，调整pn码型，选择不同的周期长度的pn码。7.根据权利要求6所述的一种基于伪随机序列的解调性能自适应测试方法，其特征在于：所述根据实时信噪比，调整pn码型，选择不同的周期长度的pn码，具体的：估算实时信噪比，信噪比越小，选择周期更短的pn码；信噪比越大，选择周期更长的pn码。8.根据权利要求6所述的一种基于伪随机序列的解调性能自适应测试方法，其特征在于：所述判决门限值threshold1和threshold2的设置如下：本地正确恢复pnn码需要n个bit的初相中都没有错误bit，在已知信噪比e
b
/n0的情况下，可由以下公式计算误比特率p
b
：：接收机从数据流中截取n个bit作为生成pnn的初相中，这n个bit都正确的概率为：p
correct1
＝(1-p
b
)
n
；在n个寄存器中填入初相，其中x
i
位置存在一个错误bit，且g
i
＝0则输出的第一组n个数据中会存在1bit误码，误码率达到1/n；若此时对应的g
i
≠0，则错误bit传递后输出误码率很快会超过1/n，因此误码率的门限值threshold1需要满足：本地pn序列复位次数的门限值为threshold2，超出复位次数门限值仍未正确恢复pn序列的概率为：取p
wrong
＝0.001，则可以根据当前信噪比和n的取值，计算得到threshold2的取值。
技术总结
本发明公开了一种基于伪随机序列的解调性能自适应测试方法，涉及卫星通信技术领域。本发明包括步骤：信号模拟源生成pn码序列作为接收机解调性能的测试信号，根据待测接收机的参数进行组帧、编码及调制输出；待测接收机对pn码序列进行解调、帧同步和译码，并截取译码后数据流中pn码数据，缓存在寄存器中作为初相，通过本地pn码生成器生成本地pn码序列；比对生成的本地pn码序列与接收到的pn码序列测试信号，统计误码率，结合实时误码率和当前测试信号的实时信噪比，调整pn码型，选择不同的周期长度的pn码，保证解调性能测试结果的实时性和准确性。本发明解决了现有技术存在的测量时延长、测量精度低、硬件实现复杂度高的问题。硬件实现复杂度高的问题。硬件实现复杂度高的问题。
技术研发人员：简熠 卢欧欣 刘田 熊达福
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第十研究所
技术研发日：2023.06.30
技术公布日：2023/10/10