信息存储应用技术-j9九游会真人

.本公开涉及双端口静态随机存取存储器(sram)单元以及设计双端口sram单元的方法，更具体地，涉及双端口sram单元的布局。.由于半导体用户的积极需求和半导体制造商的不断努力，与半导体器件相关的技术持续在全球范围内实现显著增长。此外，半导体制造商努力使半导体器件更小型化、高度集成并具有大...

.本公开大体上涉及一种半导体装置。更具体来说，本申请案涉及一种具有测试电路的半导体装置。.在例如dram的半导体存储器装置中，存在在制造阶段中测试字线的情况。举例来说，可通过在感测放大器被激活的状态下仅在短时间内选择字线来进行测试以评估存储器单元的数据是否被正确反转。在此测试中，即使选定字...

.本发明涉及一种半导体存储装置，特别是涉及一种中央处理运算装置(中央处理器(centralprocessingunit，cpu))或微控制器等基于从只读存储器(readonlymemory，rom)读取的代码来控制操作的快闪存储器等半导体存储装置及其操作方法。.在与非(notan...

.本公开的实施例大体上涉及存储器子系统，且更具体来说，涉及共享字线上的存储器存取冲突管理。.存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器装置。举例来说，所述存储器装置可为非易失性存储器装置及易失性存储器装置。一般来说，主机系统可利用存储器子系统以将数据存储于存储器装置处及从存储器装置检索数据...

操作存储控制器的方法、执行该方法的存储控制器及包括该存储控制器的存储器系统.相关申请的交叉引用.本申请要求于年月日在韩国知识产权局(kipo)递交的韩国专利申请no.--的优先权，上述申请的全部内容通过引用合并于此。.本公开的方面总体涉及半导体集成电路，更具体地，涉及操作存储控制器的方法、...

.本公开大体上涉及半导体存储器及方法，并且更具体来说，涉及在存储器中的编程操作期间防止寄生电流。.存储器装置通常提供为计算机或其它电子装置中的内部半导体集成电路及/或外部可移除装置。存在许多不同类型的存储器，包含易失性及非易失性存储器。易失性存储器可能需要电力来维持其数据，且可包含随机存取...

.本申请涉及存储设备应用领域，特别是涉及一种测试方法、系统及闪存设备。.闪存设备，例如：固态硬盘(solidstatedrives，ssd)，是采用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由主控芯片，nand颗粒，dram颗粒，以及其他外设器件构成的一套系统。.随着当前闪存设备的发展，其需求...

.本发明涉及芯片检测，特别是涉及一种非易失性存储芯片测试系统及非易失性存储芯片测试方法。.随着存储器产业的发展，非易失性存储芯片的测试占据着越来越重要的地位，它是一款存储芯片流向市场不可缺少的步骤，确保了一款存储芯片工作的稳定性和可靠性。非易失性存储芯片的测试模式一般包括scan、...

读取刷新操作.交叉参考.本专利申请案主张由佩里兹(pellizzer)等人于年月日提交的标题为“读取刷新操作(readrefreshoperation)”的美国专利申请案第/,号的优先权，所述美国专利申请案转让给本专利申请案受让人且其以引用的方式明确并入本文中。.以下内容大体上涉及一或...

使用存储器内处理的基于计数器的乘法.相关申请案.本申请案主张年月日申请且标题为“使用存储器内处理的基于计数器的乘法(counter-basedmultiplicationusingprocessinginmemory)”的第/,号美国专利申请案的优先权，所述申请案的全部公开内容特此以引用...

.本申请案的实施例涉及电路，特定来说涉及修整电路的数字位产生器。.虽然集成电路(ic)制造商可使用相同设备及相同设计来生产多个ics，但由于工艺变化，因此ics仍可在细微的方面彼此不同。制造商通常在ic测试期间使用修整电路来微调或修整ics，借此减轻工艺变化。发明内容.在一些实例中，一种电...

.本公开大体上涉及半导体装置及方法，且更特定地说，涉及三维存储器阵列及其形成方法。.存储器装置通常提供为计算机或其它电子装置中的内部、半导体、集成电路及/或外部可移除式装置。存在许多不同类型的存储器，包含易失性及非易失性存储器。易失性存储器可能需要电力以维持其数据，且可包含随机存取存储器(...

一种可靠比特感知的ldpc译码方法、设备及系统.本发明属于全息存储，更具体地，涉及一种可靠比特感知的ldpc译码方法、设备及系统。.相位调制的全息存储具有均匀记录和高编码率等突出优点，有望成为最有前景的实现方法。但是，由于系统中复杂噪声的影响和相位重构方法的局限性，接收图像...

.本公开的实施例大体上涉及存储器子系统，且更具体来说，涉及存储器子系统制造模式。.存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器装置存储器装置可例如为非易失性存储器装置和易失性存储器装置。一般来说，主机系统可利用存储器子系统以在存储器装置处存储数据且从存储器装置检索数据。附图说明.根据下文给出...

多块satassd高低温测试装置、方法及系统.本发明涉及固态硬盘测试，具体是涉及一种多块satassd高低温测试装置、方法及系统。.ssd(固态驱动器)是一种非易失性存储介质，可将固态闪存存储在固态闪存中。构成ssd的两个关键组件是闪存控制器和nand闪存芯片。ssd控...

.本发明有关于集成电路，特别是有关于一种存储器控制电路及快闪存储器的抹除操作的控制方法。.传统上，当快闪存储器接收到抹除(erase)后，因为抹除操作需要花费较长的时间，且在抹除操作的期间，快闪存储器无法再接收其他指令动作。因此，传统集成电路中的处理器需要等待快闪存储器的抹除操作完成后才能...

用于存储器上型式匹配的设备和方法.本公开大体上涉及存储器装置，包含易失性存储器，例如动态随机存取存储器(dram)。数据可存储于dram的个别存储器单元中。存储器单元可以行和列的阵列形式组织。一行中的每一存储器单元可耦合到字线且一列中的每一存储器单元可耦合到位线。因此，每个存储器单元耦合到...

nvmessd中止设备自检功能的测试方法、装置、计算机设备及存储介质.本发明涉及ssd中止设备自检，尤其是指nvmessd中止设备自检功能的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。.在nvmessd测试领域，设备自检是一项基础功能，通过配置自检码来实现中止设备自检是nv...

双折射数据的有效读取.在过去十年中，世界上的许多数据都转移到了云端。为了满足日益增长的需求，云提供方依赖于各种数据存储技术。这些数据存储技术包括非易失性存储器(nvm)、闪存、硬盘驱动器(hdd)、磁带和光盘。这些存储技术在成本、延迟、吞吐量、存储密度、故障率和介质寿命方面互不相同。发明内...

.本文中所公开的实施例涉及存储器电路系统和用于形成存储器电路系统的方法。.存储器是一种类型集成电路系统且在计算机系统中用于存储数据。存储器可在个别存储器单元的一或多个阵列中制造。可使用数字线(其也可称为位线、数据线或感测线)和存取线(其也可称为字线)对存储器单元进行写入或从中进行读取。数字...